Литмир - Электронная Библиотека
Литмир - Электронная Библиотека > Afshar Amir (EN) > Principles of Semiconductor Network Testing
Principles of Semiconductor Network Testing
Добавить похожую книгу
Operator Theory and Numerical Methods
Автор: Saito N. (EN)
Похожа
Непохожа
Ocean Circulation
Похожа
Непохожа
Optical Solitons
Похожа
Непохожа
Organobismuth Chemistry
Автор: Suzuki Hitomi (EN)
Похожа
Непохожа
In Defence of Christianity
Похожа
Непохожа
Number Mysteries
Похожа
Непохожа
Presidents in Retirement
Автор: Wice Paul B. (EN)
Похожа
Непохожа
British Battalions on the Somme
Автор: Westlake Ray (EN)
Похожа
Непохожа
Principles of Semiconductor Network Testing
Author:Afshar Amir (EN)
Language of a book: Английский
Language of an original book: Английский
Publisher: Gardners Books

    This book gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor.This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.Introduces a novel component-testing philosophy for semiconductor test, product and design engineers. Best new source of information for experienced semiconductor engineers as well as entry-level personnel. Eight chapters about semiconductor testing.

    Мой статус книги:
    Чтобы оставить свою оценку и отзывы вам нужно зайти на сайт или зарегистрироваться

    {"b":"304556","o":30}